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Minimizing the cost of fault location when testing from a finite state machine

机译:在有限状态机上进行测试时,将故障定位的成本降至最低

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摘要

If a test does not produce the expected output, the incorrect output may have been caused by an earlier state transfer failure. Ghedamsi and coworkers generate a set of candidates and then produce further tests to locate the failures within this set. We consider a special case where there is a state identification process that is known to be correct. A number of preset and adaptive approaches to fault location are described and the problem of minimizing the cost is explored. Some of the approaches lead to NP-hard optimization problems for which possible heuristics are suggested.
机译:如果测试未产生预期的输出,则错误的输出可能是由较早的状态传输失败引起的。 Ghedamsi及其同事生成了一组候选者,然后进行进一步的测试以找出该组中的故障。我们考虑一种特殊情况,即存在一个已知为正确的状态识别过程。描述了许多用于故障定位的预设和自适应方法,并探讨了使成本最小化的问题。某些方法导致了NP困难的优化问题,为此提出了可能的启发式方法。

著录项

  • 作者

    Hierons, RM;

  • 作者单位
  • 年度 1999
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
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  • 中图分类

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